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      • LJ-96C超聲波探傷儀

        超聲波探傷儀是一種便攜式工業(yè)無損探傷儀器,它能夠快速、便捷、無損傷精確地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷(裂紋、疏松、氣孔、夾雜等)的檢測(cè)、定位、評(píng)估和診斷。既可以用于實(shí)驗(yàn)室,也可以用于工程檢測(cè)現(xiàn)場。廣泛應(yīng)用在鍋爐、壓力容器、航空、航天、電力、石油、化工、管道、軍工、船舶制造、汽車制造、機(jī)械加工、模具加工、冶金、金屬加工、鋼結(jié)構(gòu)、鐵路交通、核能電力、特檢系統(tǒng)、高等院校等行業(yè)。具有靈敏度高、穿透力強(qiáng)、檢測(cè)速度快

        更新日期:2026-04-02
        型號(hào):LJ-96C
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      • LJ-FT50UV反射式光學(xué)膜厚儀

        反射式光學(xué)膜厚儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。它能測(cè)低至20納米的超薄薄膜,測(cè)量誤差小于1納米,最快每秒可測(cè)100次,重復(fù)測(cè)量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合,覆蓋紫外到紅外全光譜,抗干擾能力強(qiáng),在振動(dòng)或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

        更新日期:2026-03-12
        型號(hào):LJ-FT50UV
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      • LJ-FT50UV非接觸式膜厚測(cè)量儀

        非接觸式膜厚測(cè)量儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。它能測(cè)低至20納米的超薄薄膜,測(cè)量誤差小于1納米,最快每秒可測(cè)100次,重復(fù)測(cè)量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合,覆蓋紫外到紅外全光譜,抗干擾能力強(qiáng),在振動(dòng)或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

        更新日期:2026-03-12
        型號(hào):LJ-FT50UV
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      • LJ-FT50UV反射式膜厚測(cè)量儀

        反射式膜厚測(cè)量儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。它能測(cè)低至20納米的超薄薄膜,測(cè)量誤差小于1納米,最快每秒可測(cè)100次,重復(fù)測(cè)量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合,覆蓋紫外到紅外全光譜,抗干擾能力強(qiáng),在振動(dòng)或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

        更新日期:2026-03-12
        型號(hào):LJ-FT50UV
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      • LJ-FT50UV光學(xué)膜厚儀

        光學(xué)膜厚儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。它能測(cè)低至20納米的超薄薄膜,測(cè)量誤差小于1納米,最快每秒可測(cè)100次,重復(fù)測(cè)量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合,覆蓋紫外到紅外全光譜,抗干擾能力強(qiáng),在振動(dòng)或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

        更新日期:2026-03-12
        型號(hào):LJ-FT50UV
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
      • LJ-FT50UV反射膜厚測(cè)量儀

        反射膜厚測(cè)量儀是一款精準(zhǔn)又好用的薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。它能測(cè)低至20納米的超薄薄膜,測(cè)量誤差小于1納米,最快每秒可測(cè)100次,重復(fù)測(cè)量精度高達(dá)0.05納米。它采用雙光源組合,覆蓋紫外到紅外全光譜,抗干擾能力強(qiáng),在振動(dòng)或復(fù)雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

        更新日期:2026-03-12
        型號(hào):LJ-FT50UV
        廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
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